X射線熒光光譜儀是一種基于X射線激發(fā)原理的非破壞性分析儀器，通過(guò)測(cè)量物質(zhì)受激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線熒光，實(shí)現(xiàn)元素成分的定性與定量分析。其核心原理是利用高能X射線或伽馬射線轟擊樣品，使樣品中的原子內(nèi)層電子被擊出，形成電子空穴。外層電子躍遷填補(bǔ)空穴時(shí)，釋放出具有特定能量（或波長(zhǎng)）的特征X射線，探測(cè)器捕獲這些熒光信號(hào)后，通過(guò)軟件系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為元素種類及含量信息。

　　X射線熒光光譜儀的日常保養(yǎng)：

　　1、清潔樣品室（樣品腔）

　　每次測(cè)試后：使用潔凈、干燥、無(wú)絨的軟布或?qū)Ｓ么禋馇蚯宄龢悠肥覂?nèi)的粉塵、樣品碎屑或殘留物。

　　避免使用液體清潔劑：嚴(yán)禁將水或有機(jī)溶劑直接噴灑或擦拭樣品室，以免損壞探測(cè)器窗口、光路系統(tǒng)或電路板。

　　特殊污染處理：若樣品為液體或易揮發(fā)物質(zhì)，應(yīng)立即清理，防止腐蝕或污染內(nèi)部組件。

　　2、清潔樣品托盤(pán)和樣品杯/膜

　　取出樣品后，及時(shí)清理托盤(pán)上的殘留物。

　　對(duì)于壓片樣品，清除粉末；對(duì)于液體樣品，用無(wú)水乙醇擦拭干凈并晾干。

　　定期檢查樣品杯底部的**聚酯薄膜（Mylar膜）**是否破損、起皺或污染，及時(shí)更換。

　　3、檢查X射線管窗口

　　觀察X射線出口窗口（通常為Be窗）是否清潔、無(wú)劃痕或污染。若有灰塵，用吹氣球輕輕吹凈。

　　切勿用手或硬物觸碰，Be窗極薄且有毒，破損會(huì)導(dǎo)致X射線泄漏和儀器故障。

　　4、檢查探測(cè)器狀態(tài)

　　對(duì)于Si(Li)或SDD探測(cè)器，確保制冷系統(tǒng)（如Peltier制冷或液氮）工作正常。

　　檢查制冷溫度是否達(dá)到設(shè)定值（如-35°C以下），避免探測(cè)器“升溫”導(dǎo)致性能下降。

　　5、運(yùn)行儀器自檢程序

　　開(kāi)機(jī)后或關(guān)機(jī)前，運(yùn)行儀器自帶的真空檢測(cè)（如有）、X射線管預(yù)熱、穩(wěn)定性測(cè)試或標(biāo)準(zhǔn)樣校驗(yàn)程序，確保系統(tǒng)狀態(tài)正常。